高品質の融点計XPR-300 C-よりグローバル

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高品質の融点計XPR-300 C

一、計器の主な用途と特徴

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一、計器の主な用途と特徴

XPR-300型透過偏光融点測定器は地質、鉱物、冶金、石油化学工業、化学繊維、半導体工業及び薬品検査などの部門と関連する大学の高分子などの専門的によく使われる専門実験機器である。広範なユーザーに単偏光観察、直交偏光観察、テーパ観察及び顕微撮影を行い、加熱状態における物体の変形、色変化及び物体の三状態転化を観察することができる。

本システムは高分子材料、ポリマー材料などの化学工業分野に広く応用され、物体の結晶相状態分析、ブレンド相状態分布、粒子分散性及び寸法測定、結晶動力学の過程記録分析、液晶分析、織状態構造分析、溶解状態記録観察分析などの多研究方向に適用される。

偏光顕微融点測定器XPR-300システムは光電、モード識別、精密加工、画像学、自動制御、モジュラス学などの多くの研究分野の技術を集め、長年の研究開発の結果であり、本器具は拡張性があり、コンピュータとデジタルカメラを接続することができる。画像の保存、編集、印刷を行います。

二、計器の主要技術指標

1.顕微鏡技術パラメータ：	の名前をあげる
仕様	合計倍率：
40X---630X	無応力消色差対物レンズ
	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40 X/0.65スプリング
63 X/0.85スプリング	接眼レンズ
63 X/0.85スプリング	10 Xクロス接眼レンズ
10 X分割接眼レンズ	しけんへん
	石膏1λ試験片
	マイカ1/4λ試験片
石英くさび試験片	マイクロメータ
0.01mm	カラーフィルタ
青
シート付き接眼レンズ網尺	移動定規
移動範囲30 mm×40 mm	鏡筒

三眼観察

2.融点計技術パラメータ：	ホットテーブル組成
パフォーマンス	マイクロ精密温度制御装置
	20倍対物レンズ下での動作温度は最高300℃、温度運転プログラムは全自動制御することができる、温度プログラム段はユーザーが自ら設定し、30段の温度プログラム、循環操作を行い、設定温度、炉心温度、サンプルの実際の温度を比較的正確に反映することができる。各段ごとに開始温度を設定し、この段内で維持可能時間、昇温速度は調整可能、精度±0.3℃、記憶点示度マイクロヒータプラットフォームステージに従って移動でき、作業領域の加熱面積が大きく、透光領域が調整でき、作業領域の温度勾配が±0.1未満である・開始温度室温・ワークスペースの加熱使用面積は少なくとも1 X 1 cm ・作業領域温度勾配が±0.1を超えないこと・透光領域2 mm以上、調整可能
・表示温度と実温度の誤差が±0.2を超えないこと・ステージはステージに合わせて移動可能加熱状態で最大20倍の対物レンズを使用可能

注：

融点測定（温度が100度を超える場合、25 Xの対物レンズ動作距離

近すぎてレンズが壊れやすいので、長作動距離の対物レンズ25 X、40 Xの対物レンズを選んでください）

三、システムの拡張性

　XPR-300 C型偏光融点計システムは精密な光学顕微鏡技術、先進的な光電変換技術、優れたコンピュータイメージング技術と精密な温度制御技術を結合して開発に成功した科学技術製品である。コンピュータ上で異なる温度での偏光効果画像を容易に観察し、偏光スペクトルを分析し、処理し、偏光画像を出力または印刷することができる。

見積もり：
￥

45600

元割引価格：連絡先 XPR-300型透過偏光融点測定器

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四、システム構成

1、偏光顕微鏡XP-300

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